特許
- 安井 武史, 久世 直也, 時実悠, 長谷 栄治, 岸川 博紀, 岡村 康弘, 梶 貴博, 鎌田 隼, 諸橋 功, 久武 信太朗
『無線受信装置』
出願番号：特許出願2022-134378（出願受理日：2022年8月25日）
- New! 安井 武史, 久世 直也, 時実悠, 長谷 栄治, 岸川 博紀, 岡村 康弘, 藤方 潤一
『コヒーレント合成光電気変換装置』
出願番号：特許出願2022-115259（出願受理日：2022年7月20日）
PCT出願番号：PCT/JP2023/026378（出願受理日：2023年7月19日）
- 安井 武史, 南川 丈夫, 是澤秀紀
『表面プラズモン共鳴センサー』
出願番号：特許出願2022-89430（出願受理日：2022年6月1日） - 安井 武史, 久世 直也, 時実悠, 長谷 栄治, 岸川 博紀, 岡村 康弘, 藤方 潤一
『周波数多重無線伝送装置』
出願番号：特許出願2022-82057（出願受理日：2022年5月19日） - 安井 武史, 久世 直也, 時実悠, 長谷 栄治, 岸川 博紀, 岡村 康弘, 藤方 潤一
『光電気変換装置』
出願番号：特許出願2022-82054（出願受理日：2022年5月19日） - 安井 武史, 南川 丈夫
『ファイバーセンシング装置』
出願番号：特許出願2022-5612（出願受理日：2022年1月18日） - 安井 武史, 南川 丈夫
『ファイバーセンシング装置』
出願番号：特許出願2021-128669（出願受理日：2021年8月5日） - 安井 武史, 南川 丈夫、是澤 秀紀
『分光偏光特性測定装置及び分光偏光特性測定方法』
出願番号：特許出願2021-027937（出願受理日：2021年3月24日） - 南川 丈夫, 長谷 栄治, 宮本 周治, 安井 武史
『共焦点顕微鏡及び画像化システム』
出願番号：特許出願2017-188816（出願受理日：2017年9月28日）
公開番号：特許公開2021-28644（公開日：2021年2月25日）
- 安井 武史, 南川 丈夫, 麻植 凌, 田上 周路, 山本 裕紹, 田上 周路, 深野秀樹, 美濃島 薫
『屈折率計測装置及び方法』
出願番号：特許出願2017-160442（出願受理日：2017年8月23日）
公開番号：特許公開2019-39723（公開日：2019年3月14日）
- 安井 武史, 岩田 哲郎, 水谷 康弘, 南川 丈夫, 謝 宜達, 長谷 栄治, 山本 裕紹
『計測装置及び照射装置』
出願番号：特許出願2017-154392（出願受理日：2017年8月9日）
国際出願番号：PCT/JP2018/029924（出願受理日：2018年8月9日）
国際公開番号：WO2019/031584（国際公開日：2019年2月14日）
米国登録番号：米国特許10837906（登録日：2020年11月17日）
- 安井 武史, 岩田 哲郎, 水谷 康弘, 南川 丈夫, 謝 宜達, 長谷 栄治, 山本 裕紹
『計測装置』
出願番号：特許出願2015−130249（出願受理日：2015年6月29日）
国際出願番号：PCT/JP2016/66636（国際出願日：2016年6月3日）
国際公開番号：WO2017/002535（国際公開日：2017年1月5日） - 安井 武史 , 荒木 勉, 橋本 守
『スペクトル分解能とスペクトル確度を向上するフーリエ変換型分光法、分光装置および分光計測プログラム』
出願番号：特許出願2012-185978（出願受理日：2012年8月26日）
国際公開番号：WO2014/034085（国際公開日：2014年3月6日）
国内登録番号：特許6032574（登録日：2016年11月4日）
- 佐々 由季生, 向野 利寛, 石橋 達朗, 吉田 茂生, 福島 修一郎 , 荒木 勉, 安井 武史
『第二次高調波光を用いた新規コラーゲン線維化評価モデル』
出願番号：特許出願2012-186951（出願受理日：2012年8月27日）
公開番号：特許公開2014-42671（公開日：2014年3月13日） - 山下豊信，小倉有紀，安井武史，米津真人，荒木勉
『皮膚内部のコラーゲン状態の評価方法及び皮膚老化の評価方法』
出願番号：特許出願2011-104652（出願受理日：2011年5月9日）
公開番号：特許公開2012-235804（公開日：2012年12月6日） - 安井武史，荒木勉，横山修子，壁谷泰宏，野瀬昌城，北岸恵子
『超高分解テラヘルツ分光計測装置』
出願番号：特許出願2010-112723（出願受理日：2010年5月16日）
公開番号：特許公開2011-242180（公開日：2011年12月1日）
国内登録番号：特許5445775（登録日：2014年1月10日） - 山田直之，大門真，曽我峰樹，藤川久喜，桑原智裕，安井武史，荒木勉，横 修子，壁谷 泰宏
『テラヘルツレーダ装置』
出願番号：特許出願2009-233258（出願受理日：2009年10月7日）
公開番号：特許公開2011-080860（公開日：2011年4月21日） - 安井武史，高橋由，荒木勉，小倉有紀，桑原智裕，
『皮膚しわの評価方法』
出願番号：特許出願2008-81503（出願受理日：2008年3月26日）
公開番号：特許公開2009－236610 （公開日：2009年10月15日） - 福島修一郎，安井武史，荒木勉，
『培養組織試料の評価方法およびそれを用いた培養組織の製造方法』
出願番号：特許出願2006-195926（出願受理日：2006年7月18日）
公開番号：特許公開2007－049990（公開日：2007年3月1日） -
安井武史、荒木勉、実吉永典
『高分解・高速テラヘルツ分光計測装置』
国内出願番号：特許出願2005-55367（出願受理日：2005年3月1日）
国際出願番号：PCT/JP2005/15791（出願受理日：2005年8月30日）
国際公開番号：WO2006/092874（国際公開日：平成18年9月8日）
国内登録番号：特許4565198
米国登録番号：米国特許7,605,371 - 安井武史、荒木勉、安田敬史
『実時間テラヘルツトモグラフィー装置および分光イメージング装置』
国内出願番号：特許出願2005-034471（出願受理日：2005年2月10日）
国際出願番号：PCT/JP2005/015868（出願受理日：2005年8月31日）
国際公開番号：WO2006/085403（国際公開日：2006年8月17日） -
安井武史、荒木勉
『塗装膜測定方法及び装置』
出願番号：特許出願2002-181433（出願受理日：2002年6月21日）
公開番号：特許公開2004−28618（公開日：2004年1月29日）
登録番号：特許4046158（登録日：2007年11月30日）
